1. VLSI testing: Digital and mixed analogue / digital techniques
پدیدآورنده : Hurst, Stanley Leonard
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale inegration - Testing
رده :
TK
7874
.
H87
1998